进口台式涂镀层测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

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产品详情

简介

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

XDL230特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

典型的应用领域有:

·测量大规模生产的电镀部件

·测量超薄镀层，例如:装饰铬

·测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

·测量印刷线路板

·分析电镀溶液

XDL230有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器。

比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。

由于采用了FISCHER完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台，马达驱动的Z轴系统。

高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能，可以精确定位测量位置。通过视频窗口，还可以实时观察测量过程和进度。

测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计，由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。

带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放，并且允许测量点的精确调整。

所有的仪器操作，以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示，都可以通过功能强大而界面友好的 WinFTM® 软件在电脑上完成。

XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器，型式许可完全符合德国 “Deutsche Röntgenverordnung-RöV” 法规的规定。